Нано - микроскопические отжимные устройства серии DKYH

Серия DKYHНано - микроскопический дефлятор

Экспериментальное оборудование было разработано совместно с исследовательской группой Университета Цзилинь.

1. Криогенный микронанометр

Для низкотемпературной технологии испытания микронанометровых царапин статус - кво и существующие проблемы, в сочетании с существующей базовой теорией тестирования нанометровых царапин, технологией прецизионного привода, технологией прецизионного обнаружения и низкотемпературным охлаждением, разработка и производство коммерческого низкотемпературного микронанометрового детектора царапин.Международная первая станция для низкотемпературной сверхпроводимости технологии, физики конденсированного состояния, подготовки материалов, наук о жизни, аэрокосмической и межзвездных исследований обеспечивает точную техническую поддержку, удобное расширение, простое соединение, · можно выбрать конфигурацию 2 - 4 каналов, частотный диапазон каждого канала необязательно

Прибор для испытания высокотемпературных микронанометров

Первый в мире коммерческий высокотемпературный микронанометровый измерительный прибор для измерения следов, обеспечивающий точную техническую поддержку для подготовки материалов, наук о жизни, аэрокосмической и межзвездной разведки.
Разрешение силы: 1 мН (при комнатной температуре), 4 мН (при высокой температуре); 9 мН (при комнатной температуре), 20 мН (при высокой температуре); 50 мН (при комнатной температуре),200mN (Высокая температура) (серия)Высокотемпературные камеры необязательно

Испытатель микро - нанометровых царапин с несколькими физическими полями

Уровень точности соответствует международному стандарту ISO 14577.
Разрешение магнитного поля: 1Oe
Размер образца: миллиметровый уровень
Измеряемые основные параметры, такие как кривая глубины прижима - прижима, твердость материала, модуль упругости
Оснащен контрольным хостом, специальной системой контроля и вспомогательным программным обеспечением для аналитической обработки

4 Результаты продукции

4 Национальные стандарты машиностроения; Получение 3 патентов на самостоятельную интеллектуальную собственность; Разработанные приборы прошли проверку качества в Национальном центре контроля и проверки качества испытательных машин. (Слева - 4 национальных стандарта машиностроения, 3 патента на интеллектуальную собственность, отчет Национального центра контроля качества)