система испытания тепловых свойств на жестких диодах

1) Модульная конструкция обеспечивает автоматическое и ручное тестирование, поддерживает многоканальные диоды и сбор температуры;

2)Мониторинг в режиме реального времени длительность испытаний, температура поверхности коробки (1 путь), ток диода (извлечение источника постоянного тока), падение давления диода и другие данные;

3)Показывать кривые всех данных; Среди них кривые температуры 30°C, 50°C, 70°C и 90°C отображаются в одной и той же системе координат, что соответствует кривой тока в триггерном периоде импульсного питания 300uS при температуре 30°C, 50°C, 70°C и 90°C, отображающейся в одной и той же системе координат;

4)В соответствии с тестовыми данными, используя кривую наименьшего квадрата, чтобы получить характеристики VD на TJ, программное обеспечение показывает кривую, кривая может отображать значения соответствующего напряжения для каждой температуры, автоматически вычислять температуру перехода диода и отображать уравнение соответствия на интерфейсе;

5)Для температурных кривых в рабочее время программируемого питания отображается в одной и той же системе координат, соответствующий ток и напряжение отображаются в одной и той же системе координат;

6)Все данные могут быть экспортированы в форме EXCEL, а кривые или диаграммы могут быть экспортированы для облегчения обработки и анализа данных.