Подробная информация о комбинированном многофункциональном рентгеновском дифракционном приборе серии Ultima IV:

I. Описание приборов

Комбинированный многофункциональныйXрентгеновский дифрактометрUltima IVСерия представляет собой высокопроизводительный многофункциональный порошок.XРадиоактивный дифрактометр, который использует физику *CBOПерекрестная оптическая система, прибор может выполнять от обычных образцов порошка до включенияIn-PlaneВнутри пробы пленки. Используя комбинированную структуру, различные тесты могут быть проведены путем различных комбинаций отдельных элементов.

II. Технические параметры

1. XМощность генератора лучей составляет3KW

2. Угловой угол

3. Угловой измеритель Zui1 / 10000Б

4. программируемая щель гониометра

5. Графитовый монохроматор с высокой эффективностью отражения

6. CBOПерекрестные световые пути, обеспечивающие сфокусированные световые пути и высокоинтенсивные параллельные световые пути с высоким разрешением (полосы)Mirror) (Уникальные науки)

7. Компонент для испытания на малоугловое рассеяние

8. Многоцелевой модуль для испытания пленки

9. Компонент микро - тестирования

10. In-PlaneТестовые компоненты (уникальные для науки)

11. Высокоскоростной детекторD/teX-Ultra

12. XДифракция лучей- Да.термометр с дифференциальным сканированиемXRD-DSC

13. Аналитическое программное обеспечение включает:XRDАналитические пакеты,NANO-SolverПакеты программного обеспечения,GXRRПакеты программного обеспечения и т.д.

III. ОСНОВНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

Комбинированный многофункциональныйXрентгеновский дифрактометрUltima IVСерия, которая может широко использоваться в различных областях анализа структуры материалов.

Материалы, которые могут быть проанализированы, включают: металлические материалы, неорганические материалы, композиты, органические материалы, наноматериалы, сверхпроводящие материалы.

Статус материала, который может быть проанализирован, включает: образцы порошка, массивные образцы, образцы пленки, микроскопические образцы

Основными видами применения являются:

1. Квалификационный и количественный анализ проб порошка

2. Расчет кристаллизации, размера зерна

3. Определение кристаллической системы, размера зерна и искажения

4. RietveldСтруктурный анализ

5. Анализ проб пленки, включая фазу пленки, толщину многослойной пленки, шероховатость поверхности, плотность заряда

6. In-PlaneУстройство может одновременно измерять структуру вертикального направления образца и структуру направления глубины образца

7. Распределение малых угловых рассеяний и размеров частиц наноматериалов

8. Анализ микрообразцов